一体化
采用人工智能算法驱动，业界首个集成IV测试、CV测试、低频噪声(1/f noise)于单台仪器中，无需换线和重新探针即可完成全部低频参数化表征。
超快速
FS-Pro系列较传统半导体参数测试系统，其测试速度高达10倍，业界首创AI测试加速卡，体验强大速度提升，同时保持测试精度。
模块化架构
PXI模块化架构，可轻松扩展支持生产测试（如 WAT）。
操作便捷
内置测量控制软件LabExpress-Adv™，拥有直观的用户图形界面，仅需点击几下鼠标就可以完成强大的器件特性分析功能。
宽量程
高达200V，3A（脉冲，标准1A），0.1fA的灵敏度。
建模仿真
业界提供可选内置器件建模与仿真软件。
