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多功能半导体参数测试一体机-FS-Pro

主要特点

 一体化

采用人工智能算法驱动,业界首个集成IV测试、CV测试、低频噪声(1/f noise)于单台仪器中,无需换线和重新探针即可完成全部低频参数化表征。


超快速

FS-Pro系列较传统半导体参数测试系统,其测试速度高达10倍,业界首创AI测试加速卡,体验强大速度提升,同时保持测试精度。


模块化架构

PXI模块化架构,可轻松扩展支持生产测试(如 WAT)。


操作便捷

内置测量控制软件LabExpress-Adv™,拥有直观的用户图形界面,仅需点击几下鼠标就可以完成强大的器件特性分析功能。


宽量程

高达200V,3A(脉冲,标准1A),0.1fA的灵敏度。


建模仿真

业界唯一提供可选内置器件建模与仿真软件。


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