适用于 TEC 的高精度温度控制
2510 型和 2510-AT 型 TEC SourceMeter SMU 仪器通过控制激光二极管模块的热电冷却器或 TEC 的操作，确保在激光二极管模块测试期间实施严格的温度控制。2510-AT 型提供一种自动调谐功能，使用改进的 Zeigler-Nichols 算法确定闭环温度控制的 P、I 和 D (比例、积分和微分)值。这意味着您将不必通过实验为这些系数确定值。
特点 | 优势 |
| 主动温度控制 | 防止温度变化可能引起激光二极管主输出波长发生变化，导致出现信号重叠和串扰问题。 |
| 50W TEC 控制器 | 比其他低功耗解决方案提供更高的测试速度和更宽的温度设定值范围。 |
| 全数字 P-I-D 控制 | 提供更高的温度稳定性，并可通过简单的固件变化轻松升级。 |
| 适用于热控制环路的自动调谐功能 (2510-AT) | 无需反复试验即可确定 P、I 和 D 系数的组合。 |
| 宽温度设定值范围（–50°C 至 +225°C）以及高设定值分辨率 (±0.001°C) 和稳定性 (±0.005°C) | 能够满足大部分冷却光学元器件和子装配件生产测试的测试要求。 |
| 兼容于多种温度传感器输入 — 热敏电阻、RTD 和 IC 传感器 | 适合最常用于各类激光二极管模块的温度传感器类型。 |
| 交流欧姆测量功能 | 验证 TEC 器件的完整性。 |
| 适用于热反馈元件的四线开路/短路引线检测 | 消除引线电阻测量值误差，减少假故障或设备损坏的可能性。 |
